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DIN 32876-1-1999 几何参数的验证.电子线性测定.第1部分:已测量数量值的模拟接收.概念、要求和测试

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 18:10:21  浏览:8055   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Verificationofgeometricalparameters-Electricallinearmeasurement-Part1:Analoguereceptionofthemeasuredquantity;concepts,requirements,testing
【原文标准名称】:几何参数的验证.电子线性测定.第1部分:已测量数量值的模拟接收.概念、要求和测试
【标准号】:DIN32876-1-1999
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1999-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:线性测量;模拟;模拟记录法;长度;定义;参数;传感器;测量设备;尺寸计量;电的;测量仪器;测量;电学测量仪表;检验;规范(验收);线性测量仪器;计量学;额定值
【英文主题词】:
【摘要】:Thedocumentdefinesthemostimportantcharacteristicquantitiesforelectricallinearmeasurementequipmentswithmechanicallycontactingpick-uporcantactlesspick-upofthemeasuredquantityandtheiranaloguereception.
【中国标准分类号】:A52
【国际标准分类号】:17_040_30;01_040_17
【页数】:9P;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:特种设备检验检测机构核准规则
中标分类: 机械 >> 机械综合 >> 标准化、质量管理
ICS分类:
发布日期:
实施日期:2004-12-03
首发日期:
作废日期:
出版日期:
页数:48页
适用范围

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所属分类: 机械 机械综合 标准化 质量管理
【英文标准名称】:ExtensiontoStandardTestInterfaceLanguage(STIL)(IEEEStd1450-1999)forsemiconductordesignenvironments
【原文标准名称】:半导体设计环境用标准测试接口语言的扩展(STIL)(IEEEStd1450-1999)
【标准号】:IEEE1450.1-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:项目;数据处理;定义;信息交换;信息技术;接口;半导体;测试图;试验规程;试验
【英文主题词】:CASE;Datahandling;Dataprocessing;Definition;Definitions;Informationinterchange;Informationtechnology;Interfaces;Semiconductors;Testpattern;Testprocedures;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:124P;A4
【正文语种】:英语



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